FISCHERSCOPE? XDV?-μ光谱仪是Fischer的高端X射线荧光系列，专为在最小的结构上进行精确的镀层厚度测量和材料分析而开发。所有仪器都配备了一个多毛细管光学元件，可将X射线束聚焦到10μm（FWHM）。与采用准直器的光学元件相比，多毛细管光学元件可以产生高辐射强度，从而大大缩短了测量时间。
所有FischerXRF仪器均配有功能众多的WinFTM软件，可在较高的精确度下测量各种应用。WinFTM还有一个集成的报表生成工具，您只需单击一下就可以创建单个报表。此外，WinFTM软件还提供了向导性的校准。
XDV-μ设备通过滤波器，电压和电流设定的系列组合，允许您为多达24个元素的复杂应用创造最佳的激励条件。此外，XDV-μ配备了一个可编程的XY工作台和模式识别软件，很容易自动测量多个样品。
标准版本XDV-μ配备了钨X射线管，用于常规应用的高精度测试。也可根据需要选择钼和铬射线管。
XDV-μ仪器配备了一个大面积硅漂移探测器（有效面积50 mm?）和新型的数字脉冲处理器（DPP+）。这些组件一起使用时，可以实现很高的计数率，这有助于最小化测量时间，同时优化重复性。
特殊应用的专用仪器XDV-μ系列包括专门为电子和半导体行业的特定应用量身定制的专用机型。例如，XDV-μLD是定... [详细介绍]